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材料分析技術(張耀) 版權信息
- ISBN：9787122444721
- 條形碼：9787122444721 ; 978-7-122-44472-1
- 裝幀：平裝
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
材料分析技術(張耀) 內容簡介
《材料分析技術》是教育部高等學校材料類專業教學指導委員會規劃教材。書中聚焦材料分析的基本原理和方法，主要介紹了X射線分析、電子束分析、表面分析、分子光譜分析、熱分析。第1章為緒論，概述了材料分析技術。第2章重點講述X射線的物理基礎，X射線衍射、X射線光譜分析、X-CT分析以及X射線同步輻射分析。第3章重點講述電子束分析的物理基礎，并著重講解透射電鏡、掃描電鏡分析。第4章側重于兩種用于表面成分分析的能譜表征方法(X射線光電子譜分析和俄歇能譜分析)以及兩種掃描探針顯微鏡（掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡）用于表面形貌結構分析。第5章的分子振動光譜則著重介紹常用的傅里葉變換紅外吸收光譜和拉曼散射光譜。第6章的熱分析重點介紹差熱分析、差示掃描量熱分析和熱重分析。 本書可作為高等院校材料類各專業的本科和研究生教材，也可作為相關領域科技工作者的參考書。
材料分析技術(張耀) 目錄
第1章緒論
1.1材料分析概述 1
1.2本書的內容和要求 3 第2章X射線分析
2.1X射線的物理基礎 4
2.1.1X射線的發現 4
2.1.2X射線的物理本質 4
2.1.3X射線的產生機理 6
2.1.4X射線的輻射——連續X射線譜與特征X射線譜 8
2.1.5X射線與物質的相互作用 13
2.1.6X射線的吸收限與濾波片 18
2.1.7X射線探測器 19
思考題 20
2.2X射線的衍射原理 20
2.2.1引言 20
2.2.2X射線衍射的方向理論 22
2.2.3X射線衍射的強度理論 30
思考題 40
2.3X射線衍射的分析方法 41
2.3.1引言 41
2.3.2單晶衍射分析方法 41
2.3.3 粉末多晶衍射分析方法 45
思考題 57
2.4物相的定性分析 57
2.4.1PDF卡片索引 59
2.4.2定性分析基本程序 60
2.4.3自動檢索 61
2.5物相的定量分析 61
2.5.1外標法 62
2.5.2內標法 63
2.5.3自標法 65
2.6X射線光譜分析 65
2.6.1X射線光譜分析的原理 66
2.6.2X射線熒光光譜 67
2.6.3波長色散X射線光譜儀 73
2.6.4能量色散X射線光譜儀 76
2.6.5波譜儀與能譜儀的比較 77
2.6.6電子探針X射線顯微分析 78
思考題 78
2.7X射線CT 79
2.7.1引言 79
2.7.2CT原理 80
2.7.3CT重建 82
2.7.4CT設備 85
2.7.5CT指標 91
2.7.6CT應用 93
思考題 96
2.8同步輻射光 97
2.8.1引言 97
2.8.2同步輻射光的突出優勢 98
2.8.3同步輻射光源的發展歷史 99
2.8.4同步輻射光源的基本構造 100
2.8.5主要同步輻射光源 102
2.8.6同步輻射光源的使用案例 103
2.9X射線的其他分析技術及使用安全 105
2.9.1X射線吸收精細結構譜學 105
2.9.2小角X射線散射技術 105
2.9.3X射線的危害與防護 105
思考題 105 第3章電子束分析
3.1電子分析基礎 106
3.1.1電子分析物理基礎 107
3.1.2電子與物質的相互作用 108
3.1.3電子與物質的相互作用體積 111
3.1.4電子產生及電子槍 113
3.1.5電子控制 114
3.1.6磁透鏡的像差 117
3.1.7磁透鏡的景深和焦深 120
思考題 121
3.2透射電子顯微鏡原理 121
3.2.1透射電子顯微鏡構造 121
3.2.2樣品制備 128
3.2.3衍射花樣分析 133
思考題 137
3.3透射電子顯微鏡的襯度分析以及顯微分析 138
3.3.1顯微成像 138
3.3.2顯微圖像分析 138
思考題 151
3.4掃描電子顯微分析 151
3.4.1掃描電鏡的基本結構 152
3.4.2掃描電鏡的性能指標 156
3.4.3掃描電鏡樣品的要求與制備 158
3.4.4掃描電鏡的操作 160
3.4.5掃描電鏡的圖像解釋 161
3.4.6二次電子成像與背散射成像對比 161
思考題 161 第4章表面分析
4.1表面分析概論 162
4.2表面能譜分析 164
4.2.1X射線光電子能譜 164
4.2.2俄歇電子能譜 180
思考題 189
4.3掃描探針顯微鏡 189
4.3.1引言 189
4.3.2掃描隧道顯微鏡 190
4.3.3原子力顯微鏡 202
思考題 209 第5章分子振動光譜分析
5.1紅外光譜分析技術 211
5.1.1引言 211
5.1.2紅外光譜的介紹 212
5.1.3紅外光譜的定性與定量分析 215
5.1.4紅外光譜儀 216
5.1.5紅外光譜的應用與譜圖解析 218
5.1.6紅外光譜技術的新進展與展望 226
思考題 226
5.2拉曼光譜分析技術 226
5.2.1引言 226
5.2.2拉曼光譜的物理學原理 227
5.2.3拉曼光譜儀的構造和原理簡介 229
5.2.4拉曼光譜與紅外光譜的比較 230
5.2.5拉曼光譜的應用 231
5.2.6拉曼光譜技術的新進展 234
思考題 234 第6章熱分析
6.1熱分析概述 235
6.1.1熱分析技術發展史 235
6.1.2熱分析技術分類和特點 236
思考題 237
6.2差熱分析法 237
6.2.1差熱分析基本原理和儀器組成 237
6.2.2差熱分析曲線 239
思考題 241
6.3差示掃描量熱法 241
6.3.1系統組成與原理 241
6.3.2DSC曲線 243
思考題 244
6.4熱重分析法 244
6.4.1儀器組成和基本原理 244
6.4.2熱重曲線 246
思考題 247
6.5實驗影響因素和應用舉例 247
6.5.1儀器因素的影響 247
6.5.2試樣特性的影響 249
6.5.3實驗條件的影響 250
6.5.4熱分析應用舉例 250 附錄（電子版）
附錄1常用物理常數
附錄2質量吸收系數μl ρ
附錄3原子散射系數f
附錄4各種點陣的結構因子|FHKL|2
附錄5粉末法的多重性因子Phkl
附錄6角因數1 cos22θsin2θcosθ
附錄7某些物質的德拜溫度Θ
附錄8德拜函數(x)x 14
附錄912cos2θsinθ cos2θθ的數值
附錄10立方晶系的晶面夾角
附錄11一些物質的晶面間距
附錄12立方與六方晶體可能出現的反射 思考題參考答案（電子版） 參考文獻
1.1材料分析概述 1
1.2本書的內容和要求 3 第2章X射線分析
2.1X射線的物理基礎 4
2.1.1X射線的發現 4
2.1.2X射線的物理本質 4
2.1.3X射線的產生機理 6
2.1.4X射線的輻射——連續X射線譜與特征X射線譜 8
2.1.5X射線與物質的相互作用 13
2.1.6X射線的吸收限與濾波片 18
2.1.7X射線探測器 19
思考題 20
2.2X射線的衍射原理 20
2.2.1引言 20
2.2.2X射線衍射的方向理論 22
2.2.3X射線衍射的強度理論 30
思考題 40
2.3X射線衍射的分析方法 41
2.3.1引言 41
2.3.2單晶衍射分析方法 41
2.3.3 粉末多晶衍射分析方法 45
思考題 57
2.4物相的定性分析 57
2.4.1PDF卡片索引 59
2.4.2定性分析基本程序 60
2.4.3自動檢索 61
2.5物相的定量分析 61
2.5.1外標法 62
2.5.2內標法 63
2.5.3自標法 65
2.6X射線光譜分析 65
2.6.1X射線光譜分析的原理 66
2.6.2X射線熒光光譜 67
2.6.3波長色散X射線光譜儀 73
2.6.4能量色散X射線光譜儀 76
2.6.5波譜儀與能譜儀的比較 77
2.6.6電子探針X射線顯微分析 78
思考題 78
2.7X射線CT 79
2.7.1引言 79
2.7.2CT原理 80
2.7.3CT重建 82
2.7.4CT設備 85
2.7.5CT指標 91
2.7.6CT應用 93
思考題 96
2.8同步輻射光 97
2.8.1引言 97
2.8.2同步輻射光的突出優勢 98
2.8.3同步輻射光源的發展歷史 99
2.8.4同步輻射光源的基本構造 100
2.8.5主要同步輻射光源 102
2.8.6同步輻射光源的使用案例 103
2.9X射線的其他分析技術及使用安全 105
2.9.1X射線吸收精細結構譜學 105
2.9.2小角X射線散射技術 105
2.9.3X射線的危害與防護 105
思考題 105 第3章電子束分析
3.1電子分析基礎 106
3.1.1電子分析物理基礎 107
3.1.2電子與物質的相互作用 108
3.1.3電子與物質的相互作用體積 111
3.1.4電子產生及電子槍 113
3.1.5電子控制 114
3.1.6磁透鏡的像差 117
3.1.7磁透鏡的景深和焦深 120
思考題 121
3.2透射電子顯微鏡原理 121
3.2.1透射電子顯微鏡構造 121
3.2.2樣品制備 128
3.2.3衍射花樣分析 133
思考題 137
3.3透射電子顯微鏡的襯度分析以及顯微分析 138
3.3.1顯微成像 138
3.3.2顯微圖像分析 138
思考題 151
3.4掃描電子顯微分析 151
3.4.1掃描電鏡的基本結構 152
3.4.2掃描電鏡的性能指標 156
3.4.3掃描電鏡樣品的要求與制備 158
3.4.4掃描電鏡的操作 160
3.4.5掃描電鏡的圖像解釋 161
3.4.6二次電子成像與背散射成像對比 161
思考題 161 第4章表面分析
4.1表面分析概論 162
4.2表面能譜分析 164
4.2.1X射線光電子能譜 164
4.2.2俄歇電子能譜 180
思考題 189
4.3掃描探針顯微鏡 189
4.3.1引言 189
4.3.2掃描隧道顯微鏡 190
4.3.3原子力顯微鏡 202
思考題 209 第5章分子振動光譜分析
5.1紅外光譜分析技術 211
5.1.1引言 211
5.1.2紅外光譜的介紹 212
5.1.3紅外光譜的定性與定量分析 215
5.1.4紅外光譜儀 216
5.1.5紅外光譜的應用與譜圖解析 218
5.1.6紅外光譜技術的新進展與展望 226
思考題 226
5.2拉曼光譜分析技術 226
5.2.1引言 226
5.2.2拉曼光譜的物理學原理 227
5.2.3拉曼光譜儀的構造和原理簡介 229
5.2.4拉曼光譜與紅外光譜的比較 230
5.2.5拉曼光譜的應用 231
5.2.6拉曼光譜技術的新進展 234
思考題 234 第6章熱分析
6.1熱分析概述 235
6.1.1熱分析技術發展史 235
6.1.2熱分析技術分類和特點 236
思考題 237
6.2差熱分析法 237
6.2.1差熱分析基本原理和儀器組成 237
6.2.2差熱分析曲線 239
思考題 241
6.3差示掃描量熱法 241
6.3.1系統組成與原理 241
6.3.2DSC曲線 243
思考題 244
6.4熱重分析法 244
6.4.1儀器組成和基本原理 244
6.4.2熱重曲線 246
思考題 247
6.5實驗影響因素和應用舉例 247
6.5.1儀器因素的影響 247
6.5.2試樣特性的影響 249
6.5.3實驗條件的影響 250
6.5.4熱分析應用舉例 250 附錄（電子版）
附錄1常用物理常數
附錄2質量吸收系數μl ρ
附錄3原子散射系數f
附錄4各種點陣的結構因子|FHKL|2
附錄5粉末法的多重性因子Phkl
附錄6角因數1 cos22θsin2θcosθ
附錄7某些物質的德拜溫度Θ
附錄8德拜函數(x)x 14
附錄912cos2θsinθ cos2θθ的數值
附錄10立方晶系的晶面夾角
附錄11一些物質的晶面間距
附錄12立方與六方晶體可能出現的反射 思考題參考答案（電子版） 參考文獻
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材料分析技術(張耀) 作者簡介
張耀，東南大學材料科學與工程學院，專任教師，研究員，1995年9月 哈爾濱工業大學 工學學士1998年6月 大連海事大學 工學碩士2002年3月 浙江大學 工學博士2002年8月-2004年9月 日本產業技術綜合研究所 博士后2004年11月-2013年2月 中國科學院大連化學物理研究所 副研究員2013年2月至今 東南大學 研究員張耀博士主要從事高容量儲氫材料, 鋰離子電池硅碳負極材料，固體電解質材料的研究，在Advanced Materials，Energy Storage Materials，Journal of Materials Chemistry A， Journal of Power Sources等期刊上發表論文100余篇，他引次數超過2000次，H-index 24 (Research Gate)。授權日本專利1項和中國發明專利7項。主持完成國*家自然科學基金，科技部863計劃，留學回國人員啟動基金，中國科學院中日合作項目，江蘇省自然科學基金面上項目，江蘇省六大人才高峰等多個科研項目。參與完成國*家自然科學基金重點項目、科技部973項目子課題項目。2008年獲中國科協期刊優秀論文獎(排名第*二)，以及中國科學院沈陽分院首屆優秀青年人才獎。2010年獲得遼寧省自然科學學術成果獎一等獎(排名第*一)。2015年獲得江蘇省 “六大高峰人才”稱號。受聘中國化學快報 （Chinese Chemical Letters）青年編委(2015-2019)，留學回國人員啟動基金項目評審專家(2010-2014)，J. Am. Chem. Soc.，Energy & Environmental Science, Energy storage Materials等國內外期刊的通信評審人。指導兩屆大學生創新創業訓練項目（國*家級）獲得優秀，2013至今一直在東南大學講授“材料分析技術”本科專業基礎課。2014年度獲東南大學青年教師授課競賽提名獎。
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