前言第二版前言**版前言**章 晶體光學基礎**節 光的波動性第二節 光的折射及全反射一、光的折射及折射率二、光的全反射及全反射臨界角第三節 自然光及偏振光第四節 光波在均質體和非均質體中的傳播特點一、光性均質體（各向同性介質）二、光性非均質體（各向異性介質）第五節 光率體一、均質體（高級晶族晶體）的光率體二、一軸晶（中級晶族晶體）的光率體三、二軸晶（低級晶族晶體）的光率體第六節 光性方位一、中級晶族晶體（一軸晶）的光性方位二、低級晶族晶體（二軸晶）的光性方位第七節 光率體色散一、均質體的光率體色散二、一軸晶的光率體色散三、二軸晶的光率體色散復習思考題第二章 偏光顯微鏡**節 偏光顯微鏡的構造一、機械系統二、光學系統三、附件第二節 偏光顯微鏡的調節與校正一、裝卸鏡頭二、調節 照明（對光）三、調節 焦距（準焦）四、校正中心五、視域直徑的測定六、目鏡十字絲的檢查七、偏光鏡的校正第三節 偏光顯微鏡的研究對象第四節 偏光顯微鏡的使用與保養復習思考題實驗課第三章 單偏光鏡下的晶體光學性質**節 單偏光鏡的裝置及光學特點第二節 礦物的形態第三節 礦物的解理一、解理縫及其影響因素二、解理等級的劃分三、解理夾角的測定第四節 礦物的顏色一、顏色的產生二、多色性與吸收性第五節 礦物的突起一、邊緣、貝克線與糙面二、突起等級的劃分三、突起等級的確定四、閃突起復習思考題實驗課第四章 正交偏光鏡下的晶體光學性質**節 正交偏光鏡的裝置及光學特點第二節 礦片的消光現象及其類型一、消光的概念二、消光類型的劃分三、各晶系礦物的消光特點第三節 礦片的干涉現象及其成因第四節 礦片的干涉色及其變化一、干涉色及其成因二、干涉色級序及各級序的特征三、干涉色色譜表四、異常干涉色第五節 補色法則及補色器一、補色法則二、幾種常用的補色器第六節 礦片消光與干涉現象的應用一、非均質體礦片上光率體橢圓半徑方向及名稱的測定二、干涉色級序的觀察與測定三、雙折率的測定四、消光類型及消光角的測定五、晶體延性符號的測定六、雙晶的觀察復習思考題實驗課第五章 錐光鏡下的晶體光學性質**節 錐光鏡的裝置及光學特點第二節 一軸晶干涉圖的圖像特點與成因一、垂直光軸切面的干涉圖二、斜交光軸切面的干涉圖三、平行光軸切面的干涉圖第三節 二軸晶干涉圖的圖像特點與成因一、垂直銳角等分線（j_覷o）切面的干涉圖二、垂直一個光軸切面的干涉圖三、斜交光軸切面的干涉圖四、垂直鈍角等分線（上礬o）切面的干涉圖五、平行光軸面（∥AP）切面的干涉圖第四節 一軸晶與二軸晶干涉圖的應用一、軸性及切面方向的確定-二、光性符號的測定三、光軸角（2y）大小的測定（或估計）第五節 錐光鏡下色散現象的觀察一、斜方晶系礦物的色散現象二、單斜晶系礦物的色散現象三、三斜晶系礦物的色散現象復習思考題實驗課第六章 透明礦物的系統鑒定**節 透明礦物系統鑒定的內容一、單偏光鏡下的觀察內容二、正交偏光鏡下的觀察內容三、錐光鏡下的觀察內容第二節 常用的定向切面及其特征一、垂直光軸切面二、平行光軸（一軸晶）或平行光軸面（二軸晶）的切面第三節 系統鑒定的步驟與程序一、區分均質體和非均質體礦物二、均質體礦物的鑒定三、非均質體礦物的鑒定第四節 系統鑒定的描述實例復習思考題實驗課第七章 晶體光學在寶玉石鑒定中的應用**節 寶玉石晶體光學鑒定的常用儀器一、寶石顯微鏡二、偏光鏡三、二色鏡四、折射儀五、分光鏡第二節 寶玉石晶體光學鑒定的主要內容第三節 寶玉石原料的晶體光學鑒定第四節 寶玉石制品的晶體光學鑒定一、偏光顯微鏡觀察二、寶石顯微鏡觀察三、偏光鏡觀察四、二色鏡觀察五、折射儀觀察六、分光鏡觀察復習思考題主要參考文獻圖版說明及圖版