序一 序二 第1章 緒論 1.1 高頻系統簡介 1.2 微波技術基礎 1.3 微波仿真技術 1.4 內容介紹 第2章 諧振腔 2.1 諧振腔與等效電路 2.2 諧振腔的耦合 2.2.1 耦合方式 2.2.2 耦合的等效電路 2.2.3 計算變壓系數 2.3 諧振腔單端口耦合等效電路 2.4 耦合度 2.4.1 耦合度的定義 2.4.2 耦合的強弱 2.4.3 耦合的瞬態分析 第3章 耦合器 3.1 時域反射計（TDR） 3.1.1 TDR原理 3.1.2 TDR時域仿真 3.1.3 TDR頻域仿真 3.2 陶瓷窗的阻抗分析 3.2.1 平板陶瓷窗阻抗分析 3.2.2 圓柱陶瓷窗阻抗分析 3.3 門鈕的網絡分析 3.3.1 方波導的阻抗、等效電壓與電流 3.3.2 廣義S參數 3.3.3 門鈕的S參數 3.4 耦合器的聯合仿真 3.4.1 耦合器的傳輸線模型 3.4.2 聯合仿真 第4章 束流負載 4.1 帶束流的高頻系統 4.1.1 等效電路 4.1.2 調諧 4.1.3 失諧角 4.1.4 功率分配 4.1.5 系統匹配 4.2 系統的頻域仿真 4.2.1 束流損耗等效為腔耗 4.2.2 束流損耗等效為介質損耗 4.3 帶束運行時的阻抗匹配 4.3.1 雙線調配器原理 4.3.2 非匹配流強下的系統調配 4.4 阻抗匹配的頻域仿真 4.4.1 雙線調配器的結構設計 4.4.2 諧振腔與束流的三維模型 4.4.3 聯合仿真 4.4.4 場分布 4.5 失諧分析 4.5.1 失諧的測量 4.5.2 失諧對場分布的影響 第5章 微波器件 5.1 功率分配器 5.1.1 電阻型功分器 5.1.2 傳輸線型功分器 5.2 定向器件 5.2.1 定向耦合器 5.2.2 方向性電橋 5.3 環形器 5.3.1 旋磁材料 5.3.2 環形器仿真 第6章 微波測量 6.1 矢量網絡分析測試架構 6.1.1 TR測試系統 6.1.2 三接收機測試架構 6.1.3 四接收機測試架構 6.2 誤差模型 6.2.1 12項誤差模型 6.2.2 8項誤差模型 6.2.3 誤差模型轉換 6.3 校準與誤差修正 6.3.1 單端口SOL校準 6.3.2 雙端口SOLT校準 6.3.3 雙端口TRL校準 6.4 去嵌入技術 6.4.1 去嵌入原理 6.4.2 TRL測試 6.4.3 模型仿真 第7章 二次電子倍增 7.1 基本原理 7.2 電子倍增效應產生的條件 7.3 抑制電子倍增效應的方法 7.4 Multipacting模擬計算 7.4.1 求解器的選擇 7.4.2 二次電子發射模型 7.4.3 模型剖分 7.4.4 粒子源設置 7.4.5 MP仿真結果分析 參考文獻 后記